機器視覺更廣泛的可用性和改進的成像組件性能，以從紅外波長的非可見光捕獲和創(chuàng)建圖像是一種趨勢能力，可以積極影響各種機器視覺應用。這種趨勢的一部分是能夠在各種IR波長下產生光的LED照明的激增。用于這種類型的成像的用例是普遍的，并且識別IR成像可以在何時何地可以使應用受益，這主要取決于被成像的對象和應用的需要。Kek機器視覺檢測設備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統_精質視覺
大約700-1000nm的“近紅外”(NIR)波長的成像已經用于機器視覺多年。用于成像約1000-2800nm的“短波紅外”(SWIR)波長的相機也不是全新的，但最近傳感器技術的進步使得這些相機在自動化應用中更加實用。最后，現在可以使用非冷卻且非常適合自動檢測的小型相機(微測輻射熱計)進行熱成像或大約7000-14000nm發(fā)射的IR波長的成像。不可見成像-紅外波長Kek機器視覺檢測設備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統_精質視覺
更廣泛的可用性和改進的成像組件性能，以從紅外波長的非可見光捕獲和創(chuàng)建圖像是一種趨勢能力，可以積極影響各種機器視覺應用。這種趨勢的一部分是能夠在各種IR波長下產生光的LED照明的激增。用于這種類型的成像的用例是普遍的，并且識別IR成像可以在何時何地可以使應用受益，這主要取決于被成像的對象和應用的需要。Kek機器視覺檢測設備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統_精質視覺
機器視覺大約700-1000nm的“近紅外”(NIR)波長的成像已經用于機器視覺多年。用于成像約1000-2800nm的“短波紅外”(SWIR)波長的相機也不是全新的，但最近傳感器技術的進步使得這些相機在自動化應用中更加實用。最后，現在可以使用非冷卻且非常適合自動檢測的小型相機(微測輻射熱計)進行熱成像或大約7000-14000nm發(fā)射的IR波長的成像。Kek機器視覺檢測設備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統_精質視覺
實際執(zhí)行：Kek機器視覺檢測設備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統_精質視覺
不可見成像具有特定用途。NIR已被用于消除機器視覺燈的高功率眩光造成的工作人員分心和不適，或突出顯示紅外燈可能以不同方式對顏色或某些材料作出反應的特定部件的特征。SWIR波長由一些完全不透明的材料(例如許多塑料)傳輸，并且以與可見光波長非常不同的方式被一些透明的材料(例如水)吸收。當熱像必須在自動化環(huán)境中進行測試時，熱成像是的解決方案。Kek機器視覺檢測設備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統_精質視覺
實際限制：Kek機器視覺檢測設備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統_精質視覺
機器視覺總體而言，對于非可見成像，如果目標波長提供所需的成像結果，則該
技術是一個不錯的選擇。但是，請記住，應用程序庫是機器視覺組合中用例的一小部分。限制可能包括：很難總是準確地預測NIR或SWIR照明將如何與待檢查的材料相互作用。建議測試應用程序。
Kek機器視覺檢測設備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統_精質視覺 自動化中熱成像的一個共同挑戰(zhàn)是為相對于背景溫度的所需熱分布開發(fā)可靠的基線。例如，必須在部件由于散熱而冷卻之前進行“過熱”部件的檢查，并且在檢查過程中冷卻必須在部件之間保持一致。成本正在下降，但SWIR和熱部件可能比可見成像部件更昂貴。Kek機器視覺檢測設備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統_精質視覺
